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| 渦流測厚儀 ED400 |
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| 致用戶： 感謝您購買本公司的產品。 ED400測厚儀是ED300型測厚儀的改進型 在操作上與ED300型測厚儀略有不同。 主要不同之處用粗斜體字標出，請留意。 在啟用儀器之前，應仔細閱讀本說明書。 如有任何疑問， 請致電本公司售后服務部。 本公司會提供必 要的幫助。 本公司提醒您：請注意保護好儀器探頭。 應避免使探頭受到碰撞； 避免探頭線受到強力拉扯； 避免探頭進水， 禁止向探頭內注油。 否則可能造成探頭的永久性損壞。 |
目錄 1、用途與原理 2. 儀器特點 3. 技術參數(shù) 4、儀器成套性 5.按鍵說明 6.測量操作 7.校正操作 8.注意事項 9.影響測量精度的因素 10.更換探頭 11.故障排除 12. 日常維護 |
ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
本儀器用千測量各種非磁性金屈基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用千測械其它鋁材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測橄塑料簿膜及紙張的厚度。
本儀器可用千在生產現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用千生產檢驗、驗收檢驗和質扯監(jiān)督檢驗。
本儀器符合國家標準GB/T4957- 2003《非磁性金屈基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
本儀器采用電渦流原理。當探頭與試樣接觸時，探頭線圓產生的高頻電磁場會在基 體金屬表面感應出渦 電流， 此渦電流產生的附加電磁場會改變探頭線圖參數(shù)，而探頭線圈參數(shù)改變顯的大小則決定千與涂層厚度相關的探頭 到基體之間的距離。儀器在校正之后通過對探頭線圈參數(shù)改變猛的測址，經過計算機處理，就可得到狻蓋層的厚度值。
儀器特征
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
- 量程寬。ED400型的量程達 到0-500 µm。
- 精度高。ED400型的測量精度 達到2%。
- 分辨率高。ED400型的分辨率 達到0. 1 µm。
- 校正簡便。只校正 " O" 和 " 50 µm " 兩點 ， 即可在全量程范圍內保證設計精度。
- 基體導電率影響小。當基體材料從純 鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，造成的測戳誤差不大于l ~ 2 µm 。
- 可靠性提高。采用 了高集成 度、高穩(wěn) 定性的電子器件， 電路結構優(yōu) 化，儀器可靠性提高。
- 穩(wěn)定性提高。采用 先進 的溫度補償技術，測量值 隨環(huán)境溫 度的變化很小。儀器校 正一次可 在生產現(xiàn) 場長期使用。
- 探頭線壽命長。采用 了德國進口的，在德國 測厚 儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
- 探頭芯壽命長。采用高強度磁 芯材料， 微調了探頭設計 ， 探頭芯壽命可大大延長。
- 探頭可互換。采用 了外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭，無需返廠維修。
- 包裝改進。采用 了大型包裝箱 ， 更精致 ， 防震效 果更好。
測量范圍： 0~ 500 µm
測盎精度： 0~ 50 µm: 土1 µm ;50~ 500 µm : 土 2%
分 辨 率： 0- 50 µm: 0. 1 µm、50- 500 µm: 1µm;
0- 500 µm: 1µm (可選）
使用溫 度： 5- 45'C
電 源： 一節(jié)9 V層疊電池功耗： 8 0mw
外形尺寸： 150mmX 80mmX 30mm
重 顯： 260 g
儀器成套性
標準配置
主機一臺探頭 一支
校正基體一塊 ( 6063 鋁合金）
校正笚片一片（約50 µm, 附檢測報告） 使用說明書一份
合格證一份
保修單一份
手提式儀器箱 一個可選附件
備用探頭
基體
校正箱片（約50 µm , 附檢測 報告）
按鍵說明
電源— 電源開關鍵 。用千開啟或關閉電源。
統(tǒng)計—統(tǒng)計鍵。用千順序讀取一組測量數(shù)據(jù)的平均值、最大值、最小值、標準偏差和測量次數(shù)。
清除—刪除鍵。用千刪除當前測量值或一個校正步驟。校正一校正鍵。用于校正儀器。
“ ”— 下調鍵。在校正狀態(tài)時，用千將顯示值調低。" .A." — 上調鍵。在校正狀態(tài)時， 用千將顯示值調高。組合鍵一兩個 按鍵配合使用可得到新功能。如表1.
表1
| 按鍵組合 | 功能說明 |
| 消除＋統(tǒng)計 | 復位 ： 恢復出廠 設罰 |
| 統(tǒng)計+ " ..." | 激活蜂鳴音 |
| 統(tǒng)計＋ ” ＂ | 消除蜂鳴音 |
| 校正＋ ” ＂ | 顯示小數(shù)( 0- 5 0 µm ) |
| 校正＋ ” “ | 顯示整數(shù) ( 0- 5 00 µ m) |
測量操作
按電源開關鍵，接通電源，儀器開始執(zhí)行自檢程序， 顯示所有符號后發(fā)出一聲鳴音， 顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進入測量狀態(tài)。此時可直接進行測量操作。
操作步驟如下：
測量
手持探頭的塑料部分， 將探頭平穩(wěn)、垂直地落到清潔、干燥的試件上， 儀器鳴叫一聲， 顯示出膜厚值（測量時用力不要過大， 以免損傷探頭）。抬高探頭，重新落下，可完成下一次測量。探頭抬高的高度應大于10mm,待續(xù)時間應大千2秒鐘。一般每一測量點應測暈5~ 10次， 然后讀取統(tǒng)計數(shù)據(jù) 。
統(tǒng)計
按動統(tǒng)計鍵可依次循環(huán)顯示以下統(tǒng)計數(shù)據(jù)：
MEAN —平均值MAX—最大值MIN—最小值
s — 標準偏差
N — 測量次數(shù)
再次測最時， 可直接進入下一組測量數(shù)據(jù)。
刪除
在測量過程中，如果因為探頭放置不穩(wěn)或其它原因，出現(xiàn)了一個明顯錯誤的測量值， 可按動刪除鍵將其刪除，不計入統(tǒng)計。在校正狀態(tài)下，按動一次刪除鍵可刪除最后一個測量值，按動兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測鼠值。
關機
測量完畢，按電源鍵關閉儀器電源。停止操作1分30秒后，儀器會自動關閉電源。
電池
儀器有欠壓提示功能，當電池電壓不足時，顯示"LOBAT" , 此時應在10分鐘 之內 結束測暈， 更換電池。電池電壓過低時，儀器會自動關機。
校準操作
本儀器不必每次使用前都做校正。對千長期沒有使用過、長期沒 有校正過、明顯失準、執(zhí)行了“ 復位” 操作及更換了探頭的儀器， 應進行校正操作。
校正時應使用隨機附帶的基體（或無涂層的產品試塊）和校正笥片?；w和校正箱片應經過仔細的清潔處理。在校正狀態(tài)下， 每次測量時探頭應盡量落到同—區(qū)
域， 手法上要輕、要穩(wěn) ，出現(xiàn)明顯誤差時應利用刪除鍵 將其刪除。
校正操作分為單點校正和兩點校正。
使用者可以根據(jù) 實際情況或自己的使用 經驗選擇執(zhí)行單點校正或兩點校正。儀器更換探頭后必須進行一次兩點校正。校正操作應在開機1分鐘后執(zhí)行。
單點校正
單點校正就是校正零點，只需要使用基體。
按校正鍵， 儀器進入校 正狀態(tài)， 顯示器顯示 " ZERO"
和 " O. O" 。
- 2 在基體上測量10次以上 ， 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
- 7.1.3 連續(xù)按動兩次校正鍵， 儀器存入新的零點值， 退出校正狀態(tài)， 顯示 "--- " 之后， 顯示 " O" 或 " O. O" , 進入測量狀態(tài)。
- 兩點校正
- 兩點校正是校正零點和一個已知點。兩點校正應使用基體和隨機附帶的 厚度約50 µm的校正箱片。
- 按校正鍵， 儀器進入校正狀態(tài)，顯示器顯示 " ZE RO"
- 和 " 0. 0"。
- 在基體上測量10 次以上，顯示器顯示 " MEAN" 和各次測最的平均值。
- 按校正鍵，儀器存入新的零點值， 顯示 " STDl " 和
- " 0. 0"。
- 將厚度值約為5 0 µ m的校正箱片放 到基體上， 在圓圓內測最10 次以上 ， 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
- 用上調鍵" ..&." 或下調鍵 " T " 將顯示值調到校正笚片的厚度值。（注：第 一次按動上渭健 "-"" ,, 威下渭健 ＂，，”時 ，顯示僮均為50. 0。此后，顯示值隨著上調健威 下調健增減。）
- 按校正鍵， 儀器存入新的校正值， 退出校正狀態(tài)， 顯示 "---" 后， 顯示 " O" 或 " O. O" , 進入測量狀態(tài)。
為盡暈提高測噩精度，在儀器的使用中應注意如下兩點：
- 1在每天使用儀器之前，以及使用中每隔一段時間（例如，每隔l小時），都應在測量現(xiàn)場對儀器的校正進行一次核對，以確定儀器的準確性。一般只要在基體或無膜產品品試塊上檢查一下儀器零點即可，必要時再用校正箱片檢查一下校正點，當誤差大千1µm時應對儀器進行校正。
影響測量精度因素
根據(jù)國 家標準GB/ T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測鼠渦流法》， 下列因素會影響測量精度。
覆蓋層厚度
測量的不確定度是渦流測厚方法固有的特性。對千較薄的覆蓋 層（例如：小千25µm)，測量不確定度是一恒定值，與覆蓋層的厚度無關，每次測量的不確定度至少是0.5 µ m。對千本儀器，這一不確定度為0.5µm~ lµm。對千厚度大千25µ m的較厚覆蓋層，測量的不確定度與覆蓋層厚度有關，是覆蓋層厚度的某一比值。對千本儀器，這一不確定度是覆蓋層厚度的2%。
對千厚度小千或等千5µm的覆蓋層，厚度值應取幾次測量的平均值。
對千厚度小千3µm的覆蓋層，不能準確測出膜厚值。
基體金屬的導電率
渦流測厚方法的測罣值會受到基體金屬導電率的影響。金屬的導電率與其 材料的成分及熱處理有關。導電率對測量的影響隨儀器的生產廠和型號的不同有明顯差異。本儀器的測量受基體金屬導電率的影響很小。
基體金屬的厚度
每臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度值，大千這個厚度，測暈值將不受基體金屈厚度增加的影響。這一臨界厚度值取決于儀器探頭系統(tǒng)的工作頻率及基體金屬的導電率。本儀器的臨界厚度值大約是0.3~ 0.4mm。
將基體金屬厚度低于臨界值的試樣與材質相同、厚度相同的無涂層材料疊加使用是不可靠的。
邊緣效應
渦流測厚儀對千試樣表面的不連續(xù)敏感。太靠近試樣邊緣的測量是不可靠的。如果一定要在小面積試樣或窄條試樣上測量，可將形狀相同的無涂層材料作為基體重新校正儀器。對千本儀器，當測量面積小于150m曠或試樣寬度小千12mm時，應在相應的無涂層材料上重新校正儀器。
曲率
試樣曲率的變 化會影響測屈值。試樣曲率越小，對測量值的影響就越大。對千本儀器，當測量直徑小千50mm的試樣時，應在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。
表面粗糙度
基體金屈和覆蓋層的表面粗糙度對測量值有影響。在不同的位置上進行多次測量后取平均值可以減小這一影響。如果基體金屬表面粗糙，還應在涂覆前的相應金屬材料上的多個位置校正儀器零點。
探頭與試樣表面的緊密接觸
測厚儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸 ， 試樣表面的灰塵和污物對測量值有影響。因此，測量時應確保探頭前 端和試樣表面的清潔。
當對2片以上已知精確厚度值的校正笚片進行疊加測量時， 測得的數(shù) 值要大千校 正箱片 厚度值之 和。箱片越厚、越硬， 這一偏差就越大。原因是銷片的疊加影響了探頭與笚片及銷片之間的緊密接觸。
探頭壓力
測量時，施加千探頭的壓力對測量值有影響。本儀器在探頭內有一恒壓彈簧，可保證每次測噩時探頭施加千試樣的壓力不變。
探頭的垂直度
儀器測量時，探頭應小心垂直落下，探頭的任何傾斜或抖動都會使測鼠出錯。
探頭的溫度
溫度的變化會影響探頭參數(shù)。因此，應在與使用環(huán)境大致相同的溫度下校正儀器。本儀器進行了良好的溫度補償，溫度變化對測晝值的影響很小。
更換探頭
儀器探頭是外接式的，探頭通過一個連接器連接到儀器上。探頭損壞時需要卸下舊探頭，換上備用的新探頭。一個金黃色連接器，在靠近機殼的部分有一個六邊形
螺母，探頭的拆卸和安裝都是通過旋動這個螺母完成的。探頭的更換方法如下：
卸下探頭。反時針旋轉六邊螺母，同時保持探頭的其它部分不旋轉，大約旋轉五閣，即可卸下探頭。
安裝探頭。將探頭的插頭壓在插座上，正時針旋轉六邊螺母，同時保持探頭的其它 部分不旋 轉， 大約旋轉五圈，旋緊。這樣就完成了探頭的安裝。
故障排除
故障現(xiàn)象、原因及解決方法儀器常見的故障現(xiàn)象、故障原因及解決方 法見表2.
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故障信息
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復位
由千校正錯誤造成的測量數(shù)據(jù)混亂，可以通過執(zhí)行
“復位” 操作來消除 。
開機后同時按刪除鍵和統(tǒng)計鍵，儀器顯示"---" 后，顯示 "O" 。復位操作完成，回到出廠設置。
復位后，應重新執(zhí)行兩點校正操作。
日常維護
1儀器使用完畢后，應放入儀器箱中保存，避免受到沖擊和污損。
2儀器長時間不使用時，應取出電池，以免電池漏液，腐蝕儀器。
3探頭應保持清潔，被測件上的污物和灰塵應在測量前清除掉。在生產線上使用時，應擦干試件后再測量，絕對不允許電解液或水流入探頭內，也不允許向探頭內注油，由此原因造成的探頭銹死或損壞，本公司將不負責免費維修。
4儀器如發(fā)生故障，請立即與本公司聯(lián)系維修，上海京工將竭誠為您服務。
